Новости

Новый детектор ядерных событий сокращает время срабатывания датчика радиации на 50%.

Детектор повышает чувствительность к излучению и скорость отклика, одновременно уменьшая габариты, вес и энергопотребление системы.

Иллюстрация спутника (Micross NED в круге)
Иллюстрация спутника (Micross NED в круге) PPPL / Micross

Компания «Микросс» выпустила новое устройство для обнаружения радиации, предназначенное для защиты критически важной электроники во время ядерных событий.

Компания объявила о коммерческом выпуске своего стандартного детектора ядерных событий (NED), позиционируя его как более быструю и чувствительную альтернативу устаревшим конструкциям, до сих пор используемым в оборонных и аэрокосмических системах.

Новый детектор предназначен для платформ, где отказ электроники недопустим.

К ним относятся летательные аппараты, беспилотные летательные аппараты, военные спутники, ракетные установки и наземная техника, работающая в условиях экстремального радиационного облучения.

Компания Micross заявляет, что устройство обеспечивает значительное повышение чувствительности, скорости отклика и эффективности системы при одновременном снижении размеров, веса и энергопотребления.

Более быстрая реакция на ядерные события

В стандартной версии NED представлена переработанная архитектура, которая резко отличается от устаревших подходов к обнаружению ядерных угроз, применявшихся на протяжении десятилетий.

Вместо использования внешних линейных драйверов, устройство интегрирует дифференциальные драйверы и приемники непосредственно в микросхему.

Такая интеграция устраняет необходимость в дополнительных компонентах платы. Она также снижает требования к экранированию и общую задержку системы.

По данным Microsoft, задержки, вызванные внешними схемами, могут удваивать время отклика в старых системах.

Детектор обеспечивает более чем в два раза большую чувствительность к мощности дозы излучения по сравнению с традиционными конструкциями. Кроме того, он сокращает время отклика более чем на 50 процентов в условиях высоких доз.

При повышенных уровнях перегрузки время отклика составляет от 3 до 5 наносекунд.

Эти улучшения обусловлены усовершенствованиями в собственной разработке PIN-диодов и архитектуры интегральных схем компании Micross.

В результате обеспечивается более быстрое обнаружение событий, связанных с мгновенным облучением, и более оперативная защита на системном уровне.

Разработано для оборонных платформ.

Компания Micross производит микросхему NED стандартной производительности в США. Ее специализированные ASIC-чипы производятся компанией Jazz Semiconductor Trusted Foundry, дочерней компанией Tower Semiconductor и доверенным поставщиком категории 1B Министерства обороны США.

«Компания Jazz Semiconductor Trusted Foundry рада поддержать коммерческий запуск критически важного для Micross стандартного высокопроизводительного устройства NED», — заявил Скотт Джордан, президент JSTF.

«Эта программа отражает наше стремление обеспечить надежное производство специализированных интегральных схем (ASIC) для передовых оборонных и аэрокосмических технологий».

Компания Microsoft разработала это устройство как готовое коммерческое решение.

Это позволяет оборонным подрядчикам интегрировать системы обнаружения ядерных событий без длительных циклов индивидуальной разработки.

Компания планирует выпустить версии с увеличенным температурным диапазоном и соответствующие стандарту MIL-PRF-38534 класса H позднее в этом году.

Новый детектор выдерживает экстремальные условия эксплуатации. Он способен выдерживать суммарные дозы радиации до одного миллиона рад и работает при дозах облучения, достигающих миллиардов рад в секунду.

Он также выдерживает высокое воздействие нейтронов и функционирует в диапазоне температур от –67°F до +257°F.

Компактный 44-контактный корпус для поверхностного монтажа позволяет размещать компоненты в более компактных системах. Встроенная дифференциальная передача сигналов повышает помехоустойчивость и снижает энергопотребление.

«Система обнаружения ядерных событий нового поколения от Micross обеспечивает более быстрое, компактное и надежное обнаружение», — заявил Джон Сантини, главный технический директор Micross Components.

«Благодаря применению современных методов проектирования к проверенным компонентам, это устройство значительно превосходит устаревшие решения, существующие уже несколько десятилетий, и обеспечивает более надежную защиту критически важной электроники».

Модель NED со стандартными характеристиками уже доступна в ограниченном количестве.

Компания Micross ожидает начала полномасштабного производства в конце этого года, с возможностью индивидуальной настройки чувствительности, времени отклика и форм-фактора для конкретных задач.

Sourse: interestingengineering.com

Похожие статьи

Кнопка «Наверх»